Machine learning-driven power integrity characterization for printed circuit boards

dc.contributor.authorChao, Li
dc.contributor.authorPanchenko, V. I.
dc.date.accessioned2025-10-17T09:41:29Z
dc.date.issued2025
dc.identifier.citationChao Li Machine learning-driven power integrity characterization for printed circuit boards [Electronic resours] / Chao Li, Panchenko V. I. // Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я = Information technologies: science, engineering, technology, education, health : тези доп. 33-ї міжнар. наук.-практ. конф. MicroCAD-2025, 14-17 травня 2025 р. / ред. Є. І. Сокол ; уклад. Г. В. Лісачук ; Нац. техн. ун-т "Харків. політехн. ін-т" [та ін.]. – Електрон. текст. дані. – Харків : НТУ "ХПІ", 2025. – P. 1641.
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0003-3364-3398
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/94164
dc.language.isoen
dc.publisherНаціональний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
dc.subjectmachine learning
dc.subjectprinted circuit boards
dc.subjectpower integrity
dc.subjectdigital systems
dc.subjectsoftware
dc.subjectCadence Sigrity
dc.titleMachine learning-driven power integrity characterization for printed circuit boards
dc.typeArticle

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
MicroCAD_2025_Chao_Machine_learning-driven.pdf
Розмір:
445.54 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
2.95 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: