Study of growth feature in multilayer WC/Si X-ray mirrors by transmission electron microscopy and X-ray diffraction
Вантажиться...
Дата
Автори
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник/консультант
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
Анотація
Опис
Ключові слова
multilayer WC/Si X-ray mirrors, transmission electron microscopy, study of growth feature, X-ray diffraction, material deposition, schematic representation of model
Бібліографічний опис
Chumak V. S., Pershyn Y. P. Study of growth feature in multilayer WC/Si X-ray mirrors by transmission electron microscopy and X-ray diffraction. X Міжнародна науково-практична студентська конференція магістрантів : матеріали конф., 05-08 квітня 2016 р. : у 3 ч. Ч. 2 / ред. Сокол Є. І. ; Нац. техн. ун-т "Харків. політехн. ін-т" та ін. Харків, 2016. С. 64-65.