Study of growth feature in multilayer WC/Si X-ray mirrors by transmission electron microscopy and X-ray diffraction
Loading...
Date
Authors
item.page.orcid
DOI
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
Abstract
Description
Citation
Chumak V. S., Pershyn Y. P. Study of growth feature in multilayer WC/Si X-ray mirrors by transmission electron microscopy and X-ray diffraction. X Міжнародна науково-практична студентська конференція магістрантів : матеріали конф., 05-08 квітня 2016 р. : у 3 ч. Ч. 2 / ред. Сокол Є. І. ; Нац. техн. ун-т "Харків. політехн. ін-т" та ін. Харків, 2016. С. 64-65.