Study of growth feature in multilayer WC/Si X-ray mirrors by transmission electron microscopy and X-ray diffraction

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorChumak, V. S.
dc.contributor.authorPershyn, Y. P.
dc.date.accessioned2026-04-15T08:33:36Z
dc.date.issued2016
dc.identifier.citationChumak V. S., Pershyn Y. P. Study of growth feature in multilayer WC/Si X-ray mirrors by transmission electron microscopy and X-ray diffraction. X Міжнародна науково-практична студентська конференція магістрантів : матеріали конф., 05-08 квітня 2016 р. : у 3 ч. Ч. 2 / ред. Сокол Є. І. ; Нац. техн. ун-т "Харків. політехн. ін-т" та ін. Харків, 2016. С. 64-65.
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/101104
dc.language.isoen
dc.publisherНаціональний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
dc.subjectmultilayer WC/Si X-ray mirrors
dc.subjecttransmission electron microscopy
dc.subjectstudy of growth feature
dc.subjectX-ray diffraction
dc.subjectmaterial deposition
dc.subjectschematic representation of model
dc.titleStudy of growth feature in multilayer WC/Si X-ray mirrors by transmission electron microscopy and X-ray diffraction
dc.typeArticle

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Chumak_Study_2016.pdf
Розмір:
201.76 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
11.15 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

X Міжнародна науково-практична студентська конференція магістрантів. 2016