Зависимость электропроводности от толщины тонких пленок Bi₂Se₃ при низких температурах

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorМеньшикова, Светлана Ивановнаru
dc.contributor.authorРогачева, Елена Ивановнаru
dc.date.accessioned2019-01-30T10:21:41Z
dc.date.available2019-01-30T10:21:41Z
dc.date.issued2018
dc.identifier.citationМеньшикова С. И. Зависимость электропроводности от толщины тонких пленок Bi₂Se₃ при низких температурах / С. И. Меньшикова, Е. И. Рогачева // Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я = Information technologies: science, engineering, technology, education, health : наук. вид. : тези доп. 26-ї міжнар. наук.-практ. конф. MicroCAD–2018, [16-18 травня 2018 р.] : у 4 ч. Ч. 1 / ред. Є. І. Сокол. – Харків : НТУ "ХПІ", 2018. – С. 331.ru
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/39429
dc.language.isoru
dc.publisherНаціональний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"uk
dc.subjectтермоэлектрические материалыru
dc.subjectпленкиru
dc.subjectэлектропроводностьru
dc.titleЗависимость электропроводности от толщины тонких пленок Bi₂Se₃ при низких температурахru
dc.typeThesisen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
MicroCAD_2018_Menshikova_Zavisimost_elektroprov.pdf
Розмір:
526.12 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.25 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Кафедра "Природничі науки"
Кафедра "Фізика"