Quantum oscillations in thickness dependences of transport properties of topological insulator Bi2Se3 thin films
Дата
2017
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Publishing House SME "Burlaka"
Анотація
Опис
Ключові слова
quantum oscillations, thickness dependences, transport properties, topological insulator, Bi2Se3, thin films, квантові коливання, залежності товщини, транспортні властивості, топологічний ізолятор, тонкі плівки
Бібліографічний опис
Rogacheva E. I. Quantum oscillations in thickness dependences of transport properties of topological insulator Bi2Se3 thin films / E. I. Rogacheva, A. Yu. Sipatov, S. I. Menshikova // Nanotechnology and nanomaterials (NANO–2017) : abstract book Intern. research and practice conf., 23-26 August 2017, Chernivtsi, Ukraine / head O. Fesenko. – Kiev : SME "Burlaka", 2017. – P. 511.