Методические аспекты оценки объектов интелектуальной собствености (ОИС)

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorКаретникова, В. С.ru
dc.contributor.authorКременчутская, Любовь Алексеевнаru
dc.date.accessioned2014-06-05T14:48:35Z
dc.date.available2014-06-05T14:48:35Z
dc.date.issued2012
dc.description.abstractВ статье рассмотрены основные проблемы формирования методики оценки ОИС, вопросы определения экономической значимости ОИС в хозяйственной деятельности предприятий.ru
dc.description.abstractIn the article the basic problems of forming of method of estimation of OIS, questions of determination of economic meaningfulness of OIS, are considered in economic activity of enterprisesen
dc.identifier.citationКаретникова В. С. Методические аспекты оценки объектов интелектуальной собствености (ОИС) / В. С. Каретникова, Л. А. Кременчутская // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Технический прогресс и эффективность производства. – Харьков : НТУ "ХПИ". – 2012. – № 16. – С. 125-127.ru
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/7230
dc.language.isoru
dc.publisherНТУ "ХПИ"ru
dc.subjectобъекты интеллектуальной собственостиru
dc.subjectстоимовая оценкаru
dc.subjectэкономический эффектru
dc.subjectинновационный продуктru
dc.titleМетодические аспекты оценки объектов интелектуальной собствености (ОИС)ru
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
vestnik_HPI_2012_16_Karetnikova_Metodicheskiye.pdf
Розмір:
414.3 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
9 B
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Вісник № 16
Кафедра "Економіка бізнесу і міжнародні економічні відносини"