Визначення параметру дзеркальності та середньої довжини вільного пробігу носіїв заряду в тонких плівках селеніду свинцю
dc.contributor.author | Ольховська, Світлана Іванівна | uk |
dc.contributor.author | Рогачова, Олена Іванівна | uk |
dc.date.accessioned | 2019-02-07T09:14:57Z | |
dc.date.available | 2019-02-07T09:14:57Z | |
dc.date.issued | 2010 | |
dc.identifier.citation | Ольховська С. І. Визначення параметру дзеркальності та середньої довжини вільного пробігу носіїв заряду в тонких плівках селеніду свинцю / С. І. Ольховська, О. І. Рогачова // Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я (MicroCAD–2010) : наук. вид. : матеріали 18-ї міжнар. наук.-практ. конф., [12-14 травня 2010 р.] : у 4 ч. Ч. 2 / ред. Л. Л. Товажнянський. – Харків : НТУ "ХПІ", 2010. – С. 81. | uk |
dc.identifier.orcid | https://orcid.org/0000-0001-7584-656X | |
dc.identifier.uri | https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/39540 | |
dc.language.iso | uk | |
dc.publisher | Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут" | uk |
dc.subject | тонка плівка | uk |
dc.subject | епітаксіальні плівки | uk |
dc.subject | електропровідність | uk |
dc.subject | PbSe | en |
dc.subject | телурид свинцю | uk |
dc.title | Визначення параметру дзеркальності та середньої довжини вільного пробігу носіїв заряду в тонких плівках селеніду свинцю | uk |
dc.type | Thesis | en |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
- Назва:
- MicroCAD_2010_Olkhovska_Vyznach_param.pdf
- Розмір:
- 141.78 KB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
- Опис:
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 11.25 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: