Growth and Structural Characterization of Thermally Evaporated Topological Insulator Bi2Se3 Thin Films

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorRogachova, E. I.en
dc.contributor.authorFedorov, A. G.en
dc.contributor.authorKrivonogov, S. I.en
dc.contributor.authorMateychenko, P. V.en
dc.contributor.authorDobrotvorskaya, M. V.en
dc.contributor.authorGarbuz, Alexander G.en
dc.contributor.authorSipatov, A. Yu.en
dc.date.accessioned2023-02-01T11:51:56Z
dc.date.available2023-02-01T11:51:56Z
dc.date.issued2018
dc.identifier.citationGrowth and Structural Characterization of Thermally Evaporated Topological Insulator Bi2Se3 Thin Films / Rogachova E. I. [et al.] // NANO Energy 2018 : abstracts book of 5th International Conference on Nanotechnology, Nanomaterials & Thin Films for Energy Applications (18-20 july 2018, University of Aveiro, Portugal) / ed.: P. Lund, F. Marques. – Aveiro : [s. n.], 2018. – P. ENR-47.en
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0001-7584-656X
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/61934
dc.language.isoen
dc.publisherNanoCOFCen
dc.subjectthin filmsen
dc.subjectstructural characterizationen
dc.subjectthermally evaporated topological insulatoren
dc.subjectBi2Se3en
dc.titleGrowth and Structural Characterization of Thermally Evaporated Topological Insulator Bi2Se3 Thin Filmsen
dc.typeThesisen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Rogachova_Growth_and_Structural _2018.pdf
Розмір:
3.4 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.25 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Кафедра "Фізика"
Кафедра "Фізика металів і напівпровідників"