Мониторинг потерь качества продукции на протяжении жизненного цикла с использованием стандарта IDEF0

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorКрыжный, Григорий Кирилловичru
dc.contributor.authorНорик, Э. В.ru
dc.date.accessioned2020-06-02T20:55:36Z
dc.date.available2020-06-02T20:55:36Z
dc.date.issued2016
dc.identifier.citationКрыжный Г. К. Мониторинг потерь качества продукции на протяжении жизненного цикла с использованием стандарта IDEF0 / Г. К. Крыжный, Э. В. Норик // Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я (MicroCAD–2016) : наук. вид. : тези доп. 24-ї міжнар. наук.-практ. конф., [18-20 травня 2016 р.] : у 4 ч. Ч. 1 / ред. Є. І. Сокол. – Харків : НТУ "ХПІ", 2016. – С. 128.ru
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/46730
dc.language.isoru
dc.publisherНаціональний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"uk
dc.subjectмашиностроительное предприятиеru
dc.subjectмаркетинговые исследования рынкаru
dc.subjectзакупкаru
dc.subjectутилизацияru
dc.subjectфизический износru
dc.subjectпотребительru
dc.titleМониторинг потерь качества продукции на протяжении жизненного цикла с использованием стандарта IDEF0ru
dc.typeThesisen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
MicroCAD_2016_Kryzhnyy_Monitoring_poter.pdf
Розмір:
393.78 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.25 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Кафедра "Інтегровані технології машинобудування ім. М. Ф. Семка"