Диэлектрическое сканирование поперечной структуры многожильных кабелей методом совокупных измерений
Loading...
Date
Authors
ORCID
DOI
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Інститут електродинаміки НАН України
Abstract
Запропоновано методику діелектричного сканування поперечної структури багатожильних кабелів для оцінки їхнього технічного стану за величиною тангенса кута діелектричних втрат tg<$o вільного міжфазного простору (ВМП). Наведено приклад застосування методики для 27-жильного кабелю КПВГ-27-2,5. Виявлено різницю властивостей ВМП внутрішніх та зовнішніх повивів, яка обумовлена впливом оболонки — адсорбцією поверхнею ізоляції жил компонентів оболонки, що спостерігається також за зміною кольору ізоляції жил.
Description
Citation
Беспрозванных А. В. Диэлектрическое сканирование поперечной структуры многожильных кабелей методом совокупных измерений / А. В. Беспрозванных // Технічна електродинаміка = Tekhnichna Elektrodynamika. – 2008. – № 3. – С. 30-36.