Математическое моделирование изменения толщины оксидного пленки при низкоэнергетическом ионном азотировании

dc.contributor.authorКуценко, Александр Сергеевичru
dc.contributor.authorМарченко, Игорь Ивановичru
dc.date.accessioned2014-11-14T08:05:45Z
dc.date.available2014-11-14T08:05:45Z
dc.date.issued2012
dc.description.abstractСформулирована математическая модель изменения толщины оксидного слоя при ионном азотировании металлов и сплавов в остаточной атмосфере вакуумной камеры. Получены расчеты характерных времен стравливания оксидных пленок при ионном азотировании.ru
dc.description.abstractA mathematical model of thickness variation of the oxide layer during ion nitriding of metals and alloys in the vacuum chamber’s residual atmosphere was formulated. Estimates of characteristic times of oxide films dissipation during ion nitriding were obtained.en
dc.identifier.citationКуценко А. С. Математическое моделирование изменения толщины оксидного пленки при низкоэнергетическом ионном азотировании / А. С. Куценко, И. И. Марченко // Вестник Нац. техн. ун-та "ХПИ" : сб. науч. тр. Темат. вып. : Системный анализ, управление и информационные технологии. – Харьков : НТУ "ХПИ". – 2012. – № 30. – С. 7-10.ru
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/10221
dc.language.isoru
dc.publisherНТУ "ХПИ"ru
dc.subjectслой нитридныйru
dc.subjectоблучение ионноеru
dc.subjectметаллru
dc.subjectсплавru
dc.subjectкамера вакуумнаяru
dc.subjectпроцесс технологическийru
dc.titleМатематическое моделирование изменения толщины оксидного пленки при низкоэнергетическом ионном азотированииru
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
vestnik_HPI_2012_30_Kutsenko_Matematicheskoe.pdf
Розмір:
150.67 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.23 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: