Товщиннi залежностi гальваномагнiтних властивостей плiвок GeTe
dc.contributor.author | Ніколаєнко, Ганна Олександрівна | uk |
dc.contributor.author | Рогачова, Олена Іванівна | uk |
dc.date.accessioned | 2021-04-16T15:26:23Z | |
dc.date.available | 2021-04-16T15:26:23Z | |
dc.date.issued | 2013 | |
dc.description.abstract | Одержано залежностi електропровiдностi σ i коефiцiєнта Холла Rн тонких полiкристалiчних плiвок GeTe вiд їх товщини (d = 30-210 нм) за кiмнатної температури. Встановлено, що методом термiчного випаровування полiкристалiв GeTe можна отримати тонкi плiвки GeTe/KCl зi значеннями концентрацiй дiрок меншими, нiж у кристалi, майже в два рази. При зростаннi товщини плiвок до d ~ 80 нм спостерiгається рiзке збiльшення значень σ i холлiвської рухливостi носiїв заряду μн, а при подальшому зростаннi d значення μн майже не змiнюються, а значення σ змiнюються з меншою швидкiстю, що вказує на наявнiсть класичного розмiрного ефекту у тонких плiвках GeTe. | uk |
dc.description.abstract | The dependences of conductivity σ and Hall coefficient Rн of GeTe thin polycrystalline films on its thickness (d = 30-210 nm) at the room temperature were obtained. It was found that GeTe/KCl thin films can be obtained by thermal evaporation polycrystalline GeTe with values of the holes concentration almost twice smaller than the values in the bulk materials. With the growth of the films thickness up to d ~ 80 nm a sharp σ values and Hall mobility μн values increasing is observed, at the further d increasing the μH values are virtually unchanged, while the σ values change at a lower rate, which indicates the presence of the classical size effect in GeTe thin films. | en |
dc.identifier.citation | Ніколаєнко Г. О. Товщиннi залежностi гальваномагнiтних властивостей плiвок GeTe / Г. О. Ніколаєнко, О. І. Рогачова // Вісник Львівського університету. Серія фізична = Visnyk of the Lviv University. Series Physics : зб. наук. пр. – Львів : ЛНУ, 2013. – Вип. 48. – С. 85-90. | uk |
dc.identifier.uri | https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/52215 | |
dc.language.iso | uk | |
dc.publisher | Львівський національний університет ім. Івана Франка | uk |
dc.subject | телурид германiю | uk |
dc.subject | тонкi плiвки | uk |
dc.subject | класичний розмiрний ефект | uk |
dc.subject | кристалічний стан | uk |
dc.subject | коефiцiєнт Холла | uk |
dc.subject | germanium telluride | en |
dc.subject | thin films | en |
dc.subject | galvanomagnetic properties | en |
dc.subject | classic size effect | en |
dc.title | Товщиннi залежностi гальваномагнiтних властивостей плiвок GeTe | uk |
dc.title.alternative | Thickness dependences of galvanomagnetic properties of the GeTe films | en |
dc.type | Article | en |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
- Назва:
- visnyk_LU_2013_48_Nikolaienko_Tovshchynni_zalezhnosti.pdf
- Розмір:
- 186.76 KB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
- Опис:
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 11.25 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: