Электронно-микроскопическое исследование слоевой, островковой и дендритной полиморфной кристаллизации аморфных пленок

Abstract

Методами просвечивающей электронной микроскопии и электронографии исследованы структурно-морфологические особенности кристаллизации тонких аморфных пленок, происходящей без изменения состава. Продемонстрирована целесообразность классификации по ряду структурно-морфологических признаков и выделения трех типов полиморфной кристаллизации: слоевой, островковой и дендритной. Показано, что в случае слоевой полиморфной кристаллизации продвижение линии кристаллизации в область аморфной фазы можно рассматривать по аналогии с продвижением фронта световой волны по принципу Гюйгенса.

The structural and morphological characteristics of crystallization of thin amorphous films, taking place without the composition change, are investigated by methods of transmission electron microscopy and electron diffraction. The advisability of classification according to the number of structural and morphological features and of separation of three modes of polymorphic crystallization – layer, island and dendritic was demonstrated. It was shown, that in the case of layer polymorphic crystallization, the propagation of the crystallization line towards the amorphous phase can be analyzed by analogy with the propagation of the light front according to the Huygens law.