Исследование кинетики радиационно-индуцированной модификации криокристаллов методами ВУФ-спектроскопии
dc.contributor.author | Близнюк, Ольга Николаевна | ru |
dc.contributor.author | Масалитина, Наталья Юрьевна | ru |
dc.contributor.author | Огурцов, Александр Николаевич | ru |
dc.date.accessioned | 2021-10-11T12:11:26Z | |
dc.date.available | 2021-10-11T12:11:26Z | |
dc.date.issued | 2010 | |
dc.description.abstract | Предложен люминесцентно-кинетический метод контроля радиационно-индуцированной модификации структурного состояния атомарных криокристаллов, позволяющий оптическую регистрацию образования новой дефектной фазы в образцах. | ru |
dc.identifier.citation | Близнюк О. Н. Исследование кинетики радиационно-индуцированной модификации криокристаллов методами ВУФ-спектроскопии / О. Н. Близнюк, Н. Ю. Масалитина, А. Н. Огурцов // Международный оптический конгресс "Оптика – XXI век" : сб. тр. Междунар. конф. "Фундаментальные проблемы оптики – 2010" и семинаров "Всероссийский семинар по терагерцовой оптике и спектроскопии", "Всероссийский семинар по оптическим материалам, фотонным кристаллам и наноструктурам", [18-22 октября 2010 г.] / ред.: В. Г. Беспалов, С. А. Козлов. – Санкт-Петербург : НИУ ИТМО, 2010. – С. 199-201. | ru |
dc.identifier.uri | https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/54464 | |
dc.language.iso | ru | |
dc.publisher | Санкт-Петербургский государственный университет информационных технологий, механики и оптики | ru |
dc.subject | электронные возбуждения | ru |
dc.subject | ван-дер-ваальсовые кристаллы | ru |
dc.subject | кристаллы ксенона | ru |
dc.subject | точечных дефекты по Френкелю | ru |
dc.title | Исследование кинетики радиационно-индуцированной модификации криокристаллов методами ВУФ-спектроскопии | ru |
dc.type | Thesis | en |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
- Назва:
- Blizniuk_Issledovanie_kinetiki_2010.pdf
- Розмір:
- 331.02 KB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
- Опис:
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 11.25 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: