Estimation of interlayer composition in WC/Si multilayer X-ray mirrors (MXMs) at nanometer scale

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorShipkova, I. G.en
dc.contributor.authorChumak, V. S.en
dc.contributor.authorReshetnyak, M. V.en
dc.contributor.authorDevizenko, A. Y.en
dc.contributor.authorPershyn, Yuriy P.en
dc.date.accessioned2017-03-28T10:20:14Z
dc.date.available2017-03-28T10:20:14Z
dc.date.issued2016
dc.identifier.citationEstimation of interlayer composition in WC/Si multilayer X-ray mirrors (MXMs) at nanometer scale / I. G. Shipkova [et al.] // Тези доп. 24-ї Міжнар. наук.-практ. конф. "Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я" (MicroCAD–2016), 18-20 травня 2016 р. / ред. Є. І. Сокол. – Харків : НТУ "ХПІ", 2016. – Ч. 2. – С. 45.en
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/28180
dc.language.isoen
dc.publisherНТУ "ХПІ"uk
dc.subjectinterlayer thicknessen
dc.subjecttransmission electron microscopyen
dc.subjectTEMen
dc.subjectdiffraction methodsen
dc.subjectamorphous structureen
dc.subjecttungsten carbideen
dc.titleEstimation of interlayer composition in WC/Si multilayer X-ray mirrors (MXMs) at nanometer scaleen
dc.typeThesisen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
MicroCAD_2016_Shipkova_Estimation_of_interlayer.pdf
Розмір:
445.67 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.23 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Кафедра "Фізика"