Компьютерное исследование качества тонких пленок путем исследования их спектральных зависимостей

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorЧерных, Елена Петровнаru
dc.contributor.authorШеин, Александр Николаевичru
dc.date.accessioned2021-05-13T12:02:31Z
dc.date.available2021-05-13T12:02:31Z
dc.date.issued2013
dc.identifier.citationЧерных Е. П. Компьютерное исследование качества тонких пленок путем исследования их спектральных зависимостей / Е. П. Черных, М. Ю. Шеин // Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я (MicroCAD–2013) : наук. вид. : тези доп. 21-ї міжнар. наук.-практ. конф., [29-31 травня 2013 р.] : у 4 ч. Ч. 4 / ред. Л. Л. Товажнянський. – Харків : НТУ "ХПІ", 2013. – С. 55.ru
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/52622
dc.language.isoru
dc.publisherНаціональний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"uk
dc.subjectтонкоплёночный слойru
dc.subjectпленочная полупроводниковая структураru
dc.subjectкомпьютерная программаru
dc.subjectкоэффициент пропусканияru
dc.subjectкоэффициент преломления материаловru
dc.subjectдлина волныru
dc.titleКомпьютерное исследование качества тонких пленок путем исследования их спектральных зависимостейru
dc.typeThesisen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
MicroCAD_2013_Chernykh_Kompyuternoe.pdf
Розмір:
334.95 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
11.25 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Кафедра "Комп'ютерна інженерія та програмування"