Кафедра "Комп'ютерна математика і аналіз даних"

Постійне посилання колекціїhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/7570

Офіційний сайт кафедри http://web.kpi.kharkov.ua/kmmm

Кафедра "Комп'ютерна математика і аналіз даних" заснована в 2002 році.

Кафедра входить до складу Навчально-наукового інституту комп'ютерних наук та інформаційних технологій Національного технічного університету "Харківський політехнічний інститут", забезпечує підготовку бакалаврів і магістрів за проектно-орієнтованою освітньою програмою за напрямом науки про дані "DataScience".

У складі науково-педагогічного колективу кафедри працюють: 3 доктора наук: 1 – технічних, 1 – фізико-математичних, 1 – педагогічних; 15 кандидатів наук: 10 – технічних, 4 – фізико-математичних, 1 – педагогічних; 3 співробітників мають звання професора, 9 – доцента.

Переглянути

Фільтри

19991

Налаштування

Автор: search.filters.author.Galuza, A. A.Кінцева дата: 1999

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
  • Ескіз
    Документ
    Optical constants of surface layer on gadolinium gallium garnet: ellipsometric study
    (Institute of Semiconductor Physics, National Academy of Sciences of Ukraine, 1999) Belyaeva, A. I.; Galuza, A. A.; Grebennik, T. G.; Yuriyev, V. P.
    A multiple angle ellipsometric method is used for measurements of thin film layers on substrates. The method evaluates fundamental optical constants and thicknesses of the film layers. Dielectric func tions of the surface layers on the gadolinium gallium garnet (GdGaG) substrate – commonly used substrate material for rare-earth ferrogarnets (ReFeG) films, have been determined. The thickness and origin of the surface layer on the GdGaG substrate was found out. It is shown that the dielectric properties of microscopically rough layers with thicknesses ~ of 20 to 35 nm can be accurately modeled in the homogeneous thin layer approximation, but not in the effective-medium one. The precision of data was confirmed by comparing different simulations. Agreement to the third decimal point for refraction index was shown. Errors for thicknesses were not more than 3%.