Кафедра "Прикладна математика"

Постійне посилання колекціїhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/4610

Офіційний сайт кафедри http://web.kpi.kharkov.ua/apm

Від 1981 року кафедра має назву "Прикладна математика", первісна назва – кафедра теоретичної й математичної фізики.

Кафедра теоретичної й математичної фізики була заснована в 1947 році. Організатором і першим завідувачем цієї кафедри був відомий вчений-математик, фахівець із конструктивної теорії функцій, член-кореспондент Української Академії наук Наум Ілліч Ахієзер. У 1970 році кафедра цілком чітко взяла курс на дослідження прикладних питань математики, і ще тоді припускалося перейменування кафедри в кафедру "Прикладна математика".

Кафедра входить до складу Навчально-наукового інституту комп'ютерного моделювання, прикладної фізики та математики Національного технічного університету "Харківський політехнічний інститут".

У складі науково-педагогічного колективу кафедри працюють: 1 доктор технічних наук, 1 доктор фізико-математичних наук, 5 кандидатів технічних наук, 4 кандидата фізико-математичних наук; 2 співробітника мають звання професора, 8 – доцента, 1 – старшого наукового співробітника.

Переглянути

Фільтри

20071

Налаштування

Автор: search.filters.author.Тимченко, Галина НиколаевнаКлючові слова: search.filters.subject.геометрия сложная

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
  • Ескіз
    Документ
    Исследование нелинейных колебаний композитных пластин с помощью теории R-функций
    (Iнститут проблем мiцностi iм. Г. С. Писаренка НАН України, 2007) Курпа, Лидия Васильевна; Тимченко, Галина Николаевна
    Разработан эффективный подход к решению задач о геометрически нелинейных колебаниях ортотропных многослойных пластин сложной формы в классической постановке, основанный на использовании теории R-функций, вариационного метода Ритца и метода Бубнова-Галеркина. С помощью предложенного метода решены задачи о колебаниях многослойных прямоугольных пластин и пластин со сложной геометрией. Исследовано влияние геометрии области и граничных условий на амплитудно-частотные характеристики.