Кафедра "Фізика"

Постійне посилання колекціїhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/7578

Офіційний сайт кафедри http://web.kpi.kharkov.ua/tef

Кафедра "Фізика" створена у 2016 році шляхом об'єднання кафедри "Загальна та експериментальна фізика" і кафедри "Теоретична та експериментальна фізика", заснованої в 1972 році. .

У 1885 р. для викладання в інституті курсу фізики на посаду ад’юнкт-професора був запрошений магістр фізики приват-доцент Харківського університету Олександр Костянтинович Погорілко. У різні роки на кафедрі працювали видатні вчені-фізики: Пільчиков Н. Д., Латишев Г. Д., Обреїмов І. В., Пінес Б. Я., Ландау Л. Д., Корсунський М. І., Веркин Б. І., Дмитренко І. М., Базакуца В. А., Кулик І. О., Янсон І. К., Басс Ф. Г. Гуревич Ю. Г., Косевич В. М., Кукушкін Л. С. та ін.

Кафедра входить до складу Навчально-наукового інституту комп'ютерного моделювання, прикладної фізики та математики Національного технічного університету "Харківський політехнічний інститут".

У складі науково-педагогічного колективу кафедри працюють: 2 доктора та 16 кандидатів фізико-математичних наук, 2 кандидата технічних наук, 1 кандидат педагогічних наук; 2 співробітника мають звання професора, 12 – доцента.

Переглянути

Фільтри

2005 - 20063

Налаштування

Автор: search.filters.author.Lyubchenko, S. G.

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 3 з 3
  • Ескіз
    Документ
    Temperature dependences and isotherms of galoanomagnetic properties of Bi doped PbTe crystals and thin films
    (Науково-технологічний комплекс "Інститут монокристалів", 2006) Rogacheva, E. I.; Lyubchenko, S. G.; Vodorez, O. S.
    The temperature dependences of galvanomagnetic properties (the Hall coefficient, electrical conductivity, charge carrier mobility) of (PbTe)₁₀₀₋ₓBiₓ (x = 0-1) alloys obtained by doping PbTe with elementary Bi and thin films prepared from these alloys were studied in the temperature range 80-300 K. On the basis of the temperature dependences, the isotherms of the properties on the Bi concentration, which had been observed earlier at room temperature, is preserved at lower temperatures. This confirms our earlier suggestion about the self-organization processes taking place in the defect subsystem of the crystal at certain Bi concentrations.
  • Ескіз
    Документ
    Plastic deformation instabilities in Bi crystals under microindentation
    (Науково-технологічний комплекс "Інститут монокристалів", 2005) Rogacheva, E. I.; Yakovleva, A. A.; Lyubchenko, S. G.
    The dependences of microhardness H on the load on indentor were obtained for bismuth single- and polycrystals. The general tendency to H decreasing with P increasing up to ~0.15 N is observed. After that the microhardness practically does not change. In the range of P = 0.05-0.15 N, in the H(P) dependences the oscillations are detected whose presence is e[plained by qualititative changes in plastic deformation micromechanisms and in the crystal defect structure under increasing indentor load.
  • Ескіз
    Документ
    Investigation of the growth mechanism, structure, and thermoelectric properties of thin PbTe films grown on mica
    (Науково-технологічний комплекс "Інститут монокристалів", 2005) Rogacheva, E. I.; Grigorov, S. N.; Lyubchenko, S. G.; Sipatov, A. Yu.; Volobuev, V. V.; Dresselhaus, M. S.
    The growth mechanisms, structure, and thermoelectric properties of thin PbTe films prepared by thermal evaporation in vacuum and subsequent deposition on mica substrates at temperatures Ts = 375, 525 and 635 K were studied. The films were prepared from charge with different electron concentrations (n = 10¹⁷ and n = 10²⁰ cmˉ³). The film thickness was varied in the range d = 4-500 nm. Electron microscopy study showed that PbTe grows on mica epitaxially in an island like fashion predominantly in the (111) orientation. It is established that in PbTe films there exists a critical thickness at which the transition from electron to hole conductivity with decreasing d is observed. Covering films with a protective layer, lowering the substrate temperature and increasing electron concentration in the charge result in narrowing of the thickness range corresponding to hole conductivity. It is shown that electron concentrations n in the charge and in thick PbTe films grown at the substrate temperature Ts = 525 K differ, the character and magnitude of this difference depending on n in the charge.