Кафедра "Фізика"

Постійне посилання колекціїhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/7578

Офіційний сайт кафедри http://web.kpi.kharkov.ua/tef

Кафедра "Фізика" створена у 2016 році шляхом об'єднання кафедри "Загальна та експериментальна фізика" і кафедри "Теоретична та експериментальна фізика", заснованої в 1972 році. .

У 1885 р. для викладання в інституті курсу фізики на посаду ад’юнкт-професора був запрошений магістр фізики приват-доцент Харківського університету Олександр Костянтинович Погорілко. У різні роки на кафедрі працювали видатні вчені-фізики: Пільчиков Н. Д., Латишев Г. Д., Обреїмов І. В., Пінес Б. Я., Ландау Л. Д., Корсунський М. І., Веркин Б. І., Дмитренко І. М., Базакуца В. А., Кулик І. О., Янсон І. К., Басс Ф. Г. Гуревич Ю. Г., Косевич В. М., Кукушкін Л. С. та ін.

Кафедра входить до складу Навчально-наукового інституту комп'ютерного моделювання, прикладної фізики та математики Національного технічного університету "Харківський політехнічний інститут".

У складі науково-педагогічного колективу кафедри працюють: 2 доктора та 16 кандидатів фізико-математичних наук, 2 кандидата технічних наук, 1 кандидат педагогічних наук; 2 співробітника мають звання професора, 12 – доцента.

Переглянути

Фільтри

2012 - 20132

Налаштування

Містить файли: ТакКлючові слова: search.filters.subject.рентгеновское излучение

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 2 з 2
  • Ескіз
    Документ
    Определение содержания легких элементов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции
    (Национальный научный центр "Харьковский физико-технический институт", 2013) Михайлов, Игорь Федорович; Батурин, Алексей Анатольевич; Михайлов, Антон Игоревич; Фомина, Лариса Петровна
    Разработан метод анализа материалов по совмещенным спектрам рентгеновской флуоресценции и дифракции. На примере стандартных образцов низколегированных сталей показано, что специально рассчитанная рентгенооптическая схема с вторичной мишенью позволяет уменьшить до Х = 5…6 мм расстояние от образца до детектора и получить структурные отражения контролируемых фаз (цементита и феррита) в участках рентгенофлуоресцентного спектра, свободных от аналитических линий исследуемого образца. Это дает возможность производить количественный фазовый анализ содержания цементита (Fe3C) по интенсивности структурных отражений, а по его результатам определять содержание углерода в стали. Все остальные элементы определяются по интенсивности линий флуоресценции, при этом за счет малого расстояния Х пределы обнаружения легких элементов в сталях, бронзах и алюминиевых сплавах, полученные на портативном безвакуумном анализаторе, близки к значениям для мощных вакуумных приборов РФА.
  • Ескіз
    Документ
    Источник монохроматического рентгеновского излучения на основе двухступенчатого вторичного излучателя
    (Национальный научный центр "Харьковский физико-технический институт", 2012) Мамалуй, Андрей Александрович; Батурин, Алексей Анатольевич; Михайлов, Антон Игоревич
    Теоретически рассчитан и экспериментально разработан источник монохроматического рентгеновского излучения на основе двухступенчатого вторичного излучателя Mo-Cu (secondary target) для трубок с анодом прострельного типа. Экспериментально исследованы диаграмма направленности и контрастность спектра выходящего излучения. Установлено, что двухступенчатый вторичный излучатель позволяет получить 20…50-кратный выигрыш в контрастности выходящего спектра по сравнению с одноступенчатым. Спектры рентгеновской флуоресценции стандартного образца алюминиевого сплава (СО1 AL), полученные с помощью двухступенчатого вторичного излучателя, по контрастности в 6 раз превосходят схему с фильтрацией первичного излучения и в 2 раза – схему с одноступенчатым вторичным излучателем.