Кафедра "Мікро- та наноелектроніка"

Постійне посилання колекціїhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/2787

Офіційний сайт кафедри http://web.kpi.kharkov.ua/mne

Від 2022 року (НАКАЗ 31 ОД від 21.01.2022 року) кафедра має назву "Мікро- та наноелектроніка", первісна назва – "Фізичне матеріалознавство для електроніки та геліоенергетики". З 1.09.2024 р. (НАКАЗ 303 ОД від 28.08.2024 року ) кафедра "Радіоелектроніка" приєднана до кафедри "Мікро- та наноелектроніка"

Кафедра "Фізичне матеріалознавство для електроніки та геліоенергетики" була заснована у 1988 році з ініціативи Заслуженого діяча науки та техніки України, доктора фізико-математичних наук, профессора Бойка Бориса Тимофійовича.

За час існування кафедри в галузі електроніки на основі тонкоплівкових моделей були розроблені: нові технологічні методи виготовлення надійних конденсаторів на основі танталу та ніобію, елемент захисту електронних схем від імпульсних перепадів напруги, що не має світових аналогів, резистивний газовий датчик адсорбційно-напівпровідникового типу для аналізу навколишнього середовища тощо.

Кафедра входить до складу Навчально-наукового інституту комп'ютерного моделювання, прикладної фізики та математики Національного технічного університету "Харківський політехнічний інститут".

У складі науково-педагогічного колективу кафедри працюють: 1 доктор технічних наук, 4 кандидата технічних наук, 2 кандидата фізико-математичних наук; 3 співробітника мають звання доцента, 2 – старшого наукового співробітника, 1 – старшого дослідника.

Переглянути

Фільтри

2017 - 20193

Налаштування

Автор: search.filters.author.Dobrozhan, A. I.

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 3 з 3
  • Ескіз
    Документ
    Adopting of DC Magnetron Sputtering Method For Preparing Semiconductor Films
    (Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2017) Kirichenko, M. V.; Zaitsev, R. V.; Dobrozhan, A. I.; Khrypunov, G. S.; Kharchenko, M. M.
    It has been carried out the experimental studies of the process of cadmium telluride magnetron sputtering with direct current, and the impact of a magnetron sputtering mode on CdTe films crystalline structure. In order to create thin-film solar cells based on cadmium sulfide and telluride CdTe films for the base layers of thin film solar cells was obtained on flexible polyimide substrates by magnetron sputtering with direct current for the first time. It has found that increasing the magnetron discharge current up to 80 mA leads to increase in coherent scattering regions what is due to an increase in the thickness of the cadmium telluride films of the hexagonal modification having a columnar structure.
  • Ескіз
    Документ
    Structure and Properties of the Cadmium Sulfide Films Received by Magnetron Dispersion Method
    (Сумський державний університет, 2017) Zaitsev, R. V.; Kirichenko, M. V.; Mygushchenko, R. P.; Veselova, N. V.; Khrypunov, G. S.; Dobrozhan, A. I.; Zaitseva, L. V.
    For the purpose of creation of the economic, suitable for large-scale application technology of formation of a layer of wide-scale "window", for thin-film photo-electric converters on the basis of sulfide and telluride of cadmium the pilot studies of temperature effect of a deposition of the films of sulfide of cadmium received by method of magnetron dispersion on a direct current on their optical properties and crystalline structure were conducted. By method of a two-channel optical spectroscopy it is established that a deposition of films of sulfide of cadmium at a temperature of 160 °C allows to form layers with a width of forbidden region of 1,41 eV that approaches value, characteristic of monocrystals, and the density of the photon flux passing through a cadmium sulfide layer in a spectral interval of a photosensitivity of telluride of cadmium at the level of 37,0 W·nm·cm².
  • Ескіз
    Документ
    Structure and Optical Properties of CdTe and CdS Thin Films after Hard Ultraviolet Irradiation
    (Прикарпатський національний університет ім. Василя Стефаника, 2019) Kopach, G. I.; Dobrozhan, A. I.; Khrypunov, G. S.; Mygushchenko, R. P.; Kropachek, О. Y.; Zaitsev, R. V.; Meriuts, A. V.