Публікації співробітників (НДПКІ "Молнія" НТУ "ХПІ")
Постійне посилання колекціїhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/4788
Переглянути
5 результатів
Результати пошуку
Документ Влияние стороннего импульсного электромагнитного излучения на рабочие характеристики полупроводниковых приборов(НТУ "ХПИ", 2007) Кравченко, Владимир Иванович; Дныщенко, Владимир Николаевич; Гирка, Юлия Николаевна; Лосев, Федор Владимирович; Яковенко, Игорь ВладимировичЕкспериментально доведено, що дія імпульсного електромагнітного випромінювання (ЕМВ) на напівпровідникові прилади (кремнієві діоди) супроводжується відхиленням їх вольт-амперних характеристик (появою зворотних відказів). Показано, що такого роду зміни робочих характеристик приладів пов'язано з генерацією власних електромагнітних коливань напівпровідникових комплектуючих приладів при їх взаємодії з токами, наведеними зовнішнім випромінюванням.Документ Взаимодействие потоков заряженных частиц, наведенных ЭМИ, с электромагнитными колебаниями полупроводниковых комплектующих электрорадиоизделий(НТУ "ХПИ", 2006) Кравченко, Владимир Иванович; Яковенко, Игорь Владимирович; Лосев, Федор ВладимировичПредложена аналитическая модель механизма взаимодействия токов, возникающих вследствие воздействия электромагнитного излучения в проводящих элементах электрорадиоизделий с собственными электромагнитными колебаниями структур металл-диэлектрик-полупроводник. Определены потери энергии потоков заряженных частиц, обусловленные взаимодействием такого рода, на возбуждение колебаний в субмиллиметровом диапазоне.Документ Неустойчивость поверхностных волн при их взаимодействии с потоком заряженных частиц в полупроводниковых структурах(НТУ "ХПИ", 2006) Кравченко, Владимир Иванович; Яковенко, Игорь Владимирович; Лосев, Федор ВладимировичПредложена аналитическая модель механизма взаимодействия токов, возникающих вследствие воздействия электромагнитного излучения в проводящих элементах электрорадиоизделий с собственными электромагнитными колебаниями структур металл – диэлектрик – полупроводник. Определен инкремент неустойчивости, обусловленный взаимодействием такого рода, определяющий возбуждение колебаний в субмиллиметровом диапазоне.Документ Влияние потока заряженных частиц, наведенного электромагнитным излучением, на волноводные характеристики полупроводниковых комплектующих элетрорадиоизделий(НТУ "ХПИ", 2013) Кравченко, Владимир Иванович; Лосев, Федор Владимирович; Яковенко, Игорь ВладимировичПоказано, что воздействие импульсного электромагнитного излучения (ЭМИ) на электрорадио-изделия часто сопровождаются возникновением токов в проводящих элементах изделий и образованием внутренних полей. Определены энергетические потери потока заряженных частиц обусловленных их взаимодействием с собственными полями на возбуждение поверхностных поляритонов в полупроводниковых структурах.Документ Кинетические механизмы взаимодействия поверхностных колебаний с электронами проводимости полупроводниковых структур в условиях воздействия стороннего электромагнитного излучения(НТУ "ХПИ", 2013) Кравченко, Владимир Иванович; Яковенко, Игорь Владимирович; Лосев, Федор ВладимировичПоказано, что влияние импульсного электромагнитного излучения (ЭМИ) на электрорадиоизделия часто сопровождаются появлением токов в проводящих элементах изделий и появлением внутренних полей. Определены механизмы возникновения неустойчивостей собственных колебаний полупроводниковых структур в условиях воздействия электромагнитного излучения.