Взаимодействие потоков заряженных частиц, наведенных ЭМИ, с электромагнитными колебаниями полупроводниковых комплектующих электрорадиоизделий
Дата
2006
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
НТУ "ХПИ"
Анотація
Предложена аналитическая модель механизма взаимодействия токов, возникающих вследствие воздействия электромагнитного излучения в проводящих элементах электрорадиоизделий с собственными электромагнитными колебаниями структур металл-диэлектрик-полупроводник. Определены потери энергии потоков заряженных частиц, обусловленные взаимодействием такого рода, на возбуждение колебаний в субмиллиметровом диапазоне.
Action of pulsed electromagnetic radiation on electric radio apparatus often results in EMF and currents arising in inner conductive elements as well as distortion of their internal fields. Power losses of charged particle flux caused by such interaction due to excitation of surface polaritons in metal - dielectric - semiconductor structures have been determined.
Action of pulsed electromagnetic radiation on electric radio apparatus often results in EMF and currents arising in inner conductive elements as well as distortion of their internal fields. Power losses of charged particle flux caused by such interaction due to excitation of surface polaritons in metal - dielectric - semiconductor structures have been determined.
Опис
Ключові слова
радиоэлектронная аппаратура, полупроводниковая электроника, электромагнитное излучение, радиоизделия, СВЧ-электроника, электростатика, диэлектрическая проницаемость, энергия излучения, electromagnetic radiation, surface polaritons, charged particle flux
Бібліографічний опис
Кравченко В. И. Взаимодействие потоков заряженных частиц, наведенных ЭМИ, с электромагнитными колебаниями полупроводниковых комплектующих электрорадиоизделий / В. И. Кравченко, И. В. Яковенко, Ф. В. Лосев // Электротехника и Электромеханика = Electrical engineering & Electromechanics. – 2006. – № 4. – С. 69-71.