Неустойчивость поверхностных волн при их взаимодействии с потоком заряженных частиц в полупроводниковых структурах

Вантажиться...
Ескіз

Дата

ORCID

DOI

Науковий ступінь

Рівень дисертації

Шифр та назва спеціальності

Рада захисту

Установа захисту

Науковий керівник/консультант

Члени комітету

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

НТУ "ХПИ"

Анотація

Предложена аналитическая модель механизма взаимодействия токов, возникающих вследствие воздействия электромагнитного излучения в проводящих элементах электрорадиоизделий с собственными электромагнитными колебаниями структур металл – диэлектрик – полупроводник. Определен инкремент неустойчивости, обусловленный взаимодействием такого рода, определяющий возбуждение колебаний в субмиллиметровом диапазоне.
The paper presents an analytical model of an interaction mechanism for currents arising due to action of electromagnetic radiation in current - conducting elements of electric radio apparatus with inner electromagnetic oscillations of metal - dielectric - semiconductor structures. An instability increment that results from this interaction and specifies oscillation excitation in a submillimeter range is determined.

Опис

Бібліографічний опис

Кравченко В. И. Неустойчивость поверхностных волн при их взаимодействии с потоком заряженных частиц в полупроводниковых структурах / В. И. Кравченко, И. В. Яковенко, Ф. В. Лосев // Электротехника и Электромеханика = Electrical engineering & Electromechanics. – 2006. – № 5. – С. 64-66.

Підтвердження

Рецензія

Додано до

Згадується в