Concentration dependences of galvanomagnetic and thermoelectric properties of Bi1-xSbx thin films in the range x = 0 – 0.25

Rogacheva, E. I.; Doroshenko, A. N.; Sipatov, A. Yu.; Nashchekina, O. N.

Публікація:
Concentration dependences of galvanomagnetic and thermoelectric properties of Bi1-xSbx thin films in the range x = 0 – 0.25

dc.contributor.author	Rogacheva, E. I.	en
dc.contributor.author	Doroshenko, A. N.	en
dc.contributor.author	Sipatov, A. Yu.	en
dc.contributor.author	Nashchekina, O. N.	en
dc.date.accessioned	2023-01-28T16:13:13Z
dc.date.available	2023-01-28T16:13:13Z
dc.date.issued	2019
dc.identifier.citation	Concentration dependences of galvanomagnetic and thermoelectric properties of Bi1-xSbx thin films in the range x = 0 – 0.25 / E. I. Rogacheva, A. N. Doroshenko, A. Yu. Sipatov, O. N. Nashchekina // Нанорозмірні системи: будова, властивості, технології НАНСИС 2019 : тези 6-ї наук. конф., 4-6 грудня 2019 р., Київ, Україна / редкол.: А. Г. Наумовець (голова) [та ін.] ; НАН України. – Київ : [б. в.], 2019. – P. 111.	en
dc.identifier.orcid	https://orcid.org/0000-0001-7584-656X
dc.identifier.orcid	https://orcid.org/0000-0002-9638-7080
dc.identifier.orcid	https://orcid.org/0000-0003-2578-1109
dc.identifier.uri	https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/61784
dc.language.iso	en
dc.publisher	Національна академія наук України	uk
dc.subject	Bi1−xSbx	en
dc.subject	solid solutions	en
dc.subject	thermoelectric (TE) material	en
dc.subject	refrigerating devices	en
dc.subject	thin films	en
dc.subject	polycrystals	en
dc.subject	impurity subsystem of crystal	en
dc.title	Concentration dependences of galvanomagnetic and thermoelectric properties of Bi1-xSbx thin films in the range x = 0 – 0.25	en
dc.type	Thesis	en
dspace.entity.type	Publication
relation.isAuthorOfPublication	08ab6fad-38b2-49d7-8636-871a5c2c1303
relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscovery	08ab6fad-38b2-49d7-8636-871a5c2c1303