Публікація: Concentration dependences of galvanomagnetic and thermoelectric properties of Bi1-xSbx thin films in the range x = 0 – 0.25
Вантажиться...
Дата
DOI
Назва видання
ISSN
Назва тому
Видання
Національна академія наук України
Анотація
Опис
Бібліографічний опис
Concentration dependences of galvanomagnetic and thermoelectric properties of Bi1-xSbx thin films in the range x = 0 – 0.25 / E. I. Rogacheva, A. N. Doroshenko, A. Yu. Sipatov, O. N. Nashchekina // Нанорозмірні системи: будова, властивості, технології НАНСИС 2019 : тези 6-ї наук. конф., 4-6 грудня 2019 р., Київ, Україна / редкол.: А. Г. Наумовець (голова) [та ін.] ; НАН України. – Київ : [б. в.], 2019. – P. 111.