Use full-profile x-ray fluorescence analysis to determine the trace elements
Вантажиться...
Дата
Автори
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник/консультант
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
Анотація
Опис
Ключові слова
full-profile X-ray, fluorescence analysis, trace elements, specialized hardware, analytical chemistr, modernized methods, computer processing
Бібліографічний опис
Khudolii S. A., Reshetnyak M. V. Use full-profile x-ray fluorescence analysis to determine the trace elements. X Міжнародна науково-практична студентська конференція магістрантів : матеріали конф., 05-08 квітня 2016 р. : у 3 ч. Ч. 2 / ред. Сокол Є. І. ; Нац. техн. ун-т "Харків. політехн. ін-т" та ін. Харків, 2016. С. 63.