Залежність параметрів напівпровідникових приладів від їх розміщення на підкладці
Вантажиться...
Дата
Автори
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник/консультант
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
Анотація
Опис
Ключові слова
електронна промисловість, напівпровідникові вироби, бракування, інтегральні мікросхеми, фотоприймачі, методи уникнення браку, розміщення на підкладці, дефектроутворення, різання підкладок, розміщення кристалів виробів
Бібліографічний опис
Кукурудзяк М. С. Залежність параметрів напівпровідникових приладів від їх розміщення на підкладці / М. С. Кукурудзяк // Інформаційні технології: наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я = Information technologies: science, engineering, technology, education, health : тези доп. 31-ї Міжнар. наук.-практ. конф. MicroCAD-2023, 17-20 травня 2023 р. / ред. Є. І. Сокол ; уклад. Г. В. Лісачук. – Харків : НТУ "ХПІ", 2023. – С. 53.