Метод контролю наявності дефектів в шарі електричної ізоляції
Loading...
Date
ORCID
DOI
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
НТУ "ХПІ"
Abstract
Description
Keywords
Citation
Лавінський Д. В. Метод контролю наявності дефектів в шарі електричної ізоляції / Д. В. Лавінський, Ю. Г. Гонтар, А. Г. Гурин // Тези доп. 21-ї Міжнар. наук.-практ. конф. "Інформаційні технології : наука, техніка, технологія, освіта, здоров'я" (MicroCAD–2013), 29-31 травня 2013 р. / ред. Л. Л. Товажнянський. – Харків : НТУ "ХПІ", 2013. – С. 207.