Optical detection of radiation-induced defect phase formation in solid XE
Дата
2016
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Анотація
Опис
Ключові слова
frenkel pairs, defect formation, self-trapped excitons, aggregation of defects
Бібліографічний опис
Optical detection of radiation-induced defect phase formation in solid XE [Electronic resource] / A. N. Ogurtsov [et al.] // Optical materials (OM7) : book of abstr. of the 7th Intern. symp., February 29-March 4, 2016. – Electronic text data. – Lyon, France, 2016. – 1 p. – URI: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/50488.