Optical detection of radiation-induced defect phase formation in solid XE
Вантажиться...
Дата
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник/консультант
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Анотація
Опис
Ключові слова
Бібліографічний опис
Optical detection of radiation-induced defect phase formation in solid XE [Electronic resource] / A. N. Ogurtsov [et al.] // Optical materials (OM7) : book of abstr. of the 7th Intern. symp., February 29-March 4, 2016. – Electronic text data. – Lyon, France, 2016. – 1 p. – URI: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/50488.