Optical detection of radiation-induced defect phase formation in solid XE

dc.contributor.authorOgurtsov, A. N.en
dc.contributor.authorBliznjuk, O. N.en
dc.contributor.authorKleshchev, N. F.en
dc.contributor.authorMasalitina, N. Yu.en
dc.date.accessioned2021-01-22T11:07:33Z
dc.date.available2021-01-22T11:07:33Z
dc.date.issued2016
dc.identifier.citationOptical detection of radiation-induced defect phase formation in solid XE [Electronic resource] / A. N. Ogurtsov [et al.] // Optical materials (OM7) : book of abstr. of the 7th Intern. symp., February 29-March 4, 2016. – Electronic text data. – Lyon, France, 2016. – 1 p. – URI: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/50488.en
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0003-4688-6428
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0003-1454-1038
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0001-7347-2584
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/50488
dc.language.isoen
dc.subjectfrenkel pairsen
dc.subjectdefect formationen
dc.subjectself-trapped excitonsen
dc.subjectaggregation of defectsen
dc.titleOptical detection of radiation-induced defect phase formation in solid XEen
dc.typeThesisen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Ogurtsov_Optical_detection_2016.pdf
Розмір:
211.5 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.25 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: