Оптимизация конструкции МИС W/Si для опредления А1 в канале рентгеновского спектрометра СРМ-25
Loading...
Date
item.page.orcid
item.page.doi
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Институт металлургии и материаловедения им. А. А. Байкова РАН
Abstract
Предложен и обоснован способ уменьшения интенсивности фона в спектрометрическом канале рентгеновского многоканального спектрометра СРМ-25 для определения содержания алюминия. Испытания показали, что благодаря изменению отношения толщины слоев многослойной интерференционной структуры (МИС) W/Si, работающей в качестве кристалла-анализатора, фон уменьшился в 7,25 раза, а нижний предел обнаружения алюминия - в 2,6 раза. Проведены испытания МИС с нанесенным сверху слоем алюминия в качестве абсорбционного фильтра
Description
Citation
Оптимизация конструкции МИС W/Si для опредления А1 в канале рентгеновского спектрометра СРМ-25 / И. А. Копылец [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. – 2010. – № 7, т. 76. – С. 33-36.