Оптимизация конструкции МИС W/Si для опредления А1 в канале рентгеновского спектрометра СРМ-25

Loading...
Thumbnail Image

Date

item.page.orcid

item.page.doi

item.page.thesis.degree.name

item.page.thesis.degree.level

item.page.thesis.degree.discipline

item.page.thesis.degree.department

item.page.thesis.degree.grantor

item.page.thesis.degree.advisor

item.page.thesis.degree.committeeMember

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Институт металлургии и материаловедения им. А. А. Байкова РАН

Abstract

Предложен и обоснован способ уменьшения интенсивности фона в спектрометрическом канале рентгеновского многоканального спектрометра СРМ-25 для определения содержания алюминия. Испытания показали, что благодаря изменению отношения толщины слоев многослойной интерференционной структуры (МИС) W/Si, работающей в качестве кристалла-анализатора, фон уменьшился в 7,25 раза, а нижний предел обнаружения алюминия - в 2,6 раза. Проведены испытания МИС с нанесенным сверху слоем алюминия в качестве абсорбционного фильтра

Description

Citation

Оптимизация конструкции МИС W/Si для опредления А1 в канале рентгеновского спектрометра СРМ-25 / И. А. Копылец [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. – 2010. – № 7, т. 76. – С. 33-36.

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By