Оптимизация конструкции МИС W/Si для опредления А1 в канале рентгеновского спектрометра СРМ-25
Вантажиться...
Дата
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Институт металлургии и материаловедения им. А. А. Байкова РАН
Анотація
Предложен и обоснован способ уменьшения интенсивности фона в спектрометрическом канале рентгеновского многоканального спектрометра СРМ-25 для определения содержания алюминия. Испытания показали, что благодаря изменению отношения толщины слоев многослойной интерференционной структуры (МИС) W/Si, работающей в качестве кристалла-анализатора, фон уменьшился в 7,25 раза, а нижний предел обнаружения алюминия - в 2,6 раза. Проведены испытания МИС с нанесенным сверху слоем алюминия в качестве абсорбционного фильтра
Опис
Бібліографічний опис
Оптимизация конструкции МИС W/Si для опредления А1 в канале рентгеновского спектрометра СРМ-25 / И. А. Копылец [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. – 2010. – № 7, т. 76. – С. 33-36.