Оптимизация конструкции МИС W/Si для опредления А1 в канале рентгеновского спектрометра СРМ-25

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorКопылец, Игорь Анатольевичru
dc.contributor.authorПономаренко, А. Г.ru
dc.contributor.authorДергун, С. М.ru
dc.contributor.authorИванов, Н. Н.ru
dc.contributor.authorЗахаров, А. В.ru
dc.date.accessioned2014-08-05T06:38:21Z
dc.date.available2014-08-05T06:38:21Z
dc.date.issued2010
dc.description.abstractПредложен и обоснован способ уменьшения интенсивности фона в спектрометрическом канале рентгеновского многоканального спектрометра СРМ-25 для определения содержания алюминия. Испытания показали, что благодаря изменению отношения толщины слоев многослойной интерференционной структуры (МИС) W/Si, работающей в качестве кристалла-анализатора, фон уменьшился в 7,25 раза, а нижний предел обнаружения алюминия - в 2,6 раза. Проведены испытания МИС с нанесенным сверху слоем алюминия в качестве абсорбционного фильтраru
dc.identifier.citationОптимизация конструкции МИС W/Si для опредления А1 в канале рентгеновского спектрометра СРМ-25 / И. А. Копылец [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. – 2010. – № 7, т. 76. – С. 33-36.ru
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/8051
dc.language.isoru
dc.publisherИнститут металлургии и материаловедения им. А. А. Байкова РАНru
dc.subjectрентгенофлуоресцентный анализru
dc.subjectмногослойные интерференционные структурыru
dc.subjectспектрометр рентгеновский многоканальныйru
dc.subjectнижний предел обнаруженияru
dc.subjectалюминийru
dc.titleОптимизация конструкции МИС W/Si для опредления А1 в канале рентгеновского спектрометра СРМ-25ru
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
2010_Kopylets_Optimizatsiya_konstruktsii.pdf
Розмір:
232.28 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.23 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Кафедра "Фізика металів і напівпровідників"