Influence of the parallelepiped form localized defects on ellipsometry data: scale modeling

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorGaluza, A. A.en
dc.contributor.authorKolenov, I.en
dc.contributor.authorSavchenko, Alla Aleksandrovnaen
dc.date.accessioned2022-04-25T16:58:40Z
dc.date.available2022-04-25T16:58:40Z
dc.date.issued2021
dc.description.abstractЦя стаття присвячена проблемі аналізу еліпсометричних даних поверхні з локалізованими дефектами (різні фази, пухирі, зерна тощо).uk
dc.description.abstractThis paper is devoted to the problem of the analysis of ellipsometric data of the surface with localized defects (di erent phases, blistering, grains etc.).en
dc.identifier.citationGaluza A. A. Influence of the parallelepiped form localized defects on ellipsometry data: scale modeling / A. Galuza, I. Kolenov, A. Savchenko // Multiscale Phenomena in Condensed Matter : Abstracts of the Online conference for young researchers (YOUNG MULTIS 2021), Kraków, 5–7 July 2021. – P. 120.en
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/56595
dc.language.isoen
dc.publisherInstitute of Nuclear Physicsen
dc.subjectellipsometric dataen
dc.subjectellipsometric experimenten
dc.subjectradiation stabilityen
dc.subjectеліпсометричні дані поверхніuk
dc.subjectеліпсометричний експеримент.uk
dc.subjectрадіаційна стійкість зміцненого сплаву CuCrZruk
dc.titleInfluence of the parallelepiped form localized defects on ellipsometry data: scale modelingen
dc.typeThesisen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Galuza_Influence_of_the_parallelepiped_2021.pdf
Розмір:
120.78 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.25 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Кафедра "Комп'ютерна математика і аналіз даних"