High-Stable Standard Samples of Mass in the Nano-Gram Range
Дата
2013
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Scientific and Technological Corporation "Institute for Single Crystals"
Анотація
Исследованы высокостабильные эталоны масс, полученные методом магнетронного осаждения сверхгладких слоев металлов на монокристаллические подложки. Тонкопленочные эталоны отвечают требованиям, предъявляемым ГОСТ 8.315-97 к государственным стандартным образцам: однородны, стабильны во времени и допускают аттестацию несколькими независимыми методами. Обеспечена точность измерений массы в диапазоне от 1 до 17 нг не хуже 1 нг, а в диапазоне от 17 до 3800 нг не хуже 8 нг.
Опис
Ключові слова
Бібліографічний опис
High-Stable Standard Samples of Mass in the Nano-Gram Range / I. F. Mikhailov [et al.] // Functional Materials. – 2013. – Vol. 20, № 2. – p. 266-271.