High-Stable Standard Samples of Mass in the Nano-Gram Range

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorMikhailov, I. F.en
dc.contributor.authorBaturin, A. A.en
dc.contributor.authorBugaev, Ye. A.en
dc.contributor.authorMikhailov, A. I.en
dc.contributor.authorBorisova, S. S.en
dc.date.accessioned2015-06-22T09:24:34Z
dc.date.available2015-06-22T09:24:34Z
dc.date.issued2013
dc.description.abstractИсследованы высокостабильные эталоны масс, полученные методом магнетронного осаждения сверхгладких слоев металлов на монокристаллические подложки. Тонкопленочные эталоны отвечают требованиям, предъявляемым ГОСТ 8.315-97 к государственным стандартным образцам: однородны, стабильны во времени и допускают аттестацию несколькими независимыми методами. Обеспечена точность измерений массы в диапазоне от 1 до 17 нг не хуже 1 нг, а в диапазоне от 17 до 3800 нг не хуже 8 нг.ru
dc.identifier.citationHigh-Stable Standard Samples of Mass in the Nano-Gram Range / I. F. Mikhailov [et al.] // Functional Materials. – 2013. – Vol. 20, № 2. – p. 266-271.en
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/15460
dc.language.isoen
dc.publisherScientific and Technological Corporation "Institute for Single Crystals"en
dc.titleHigh-Stable Standard Samples of Mass in the Nano-Gram Rangeen
dc.title.alternativeВысокостабильные стандартные образцы массы в нанограммном диапазонеru
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
2013_Mikhailov_Higt_stable.pdf
Розмір:
331.32 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійна угода
Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.23 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Кафедра "Фізика"
Кафедра "Фізика металів і напівпровідників"