High-Stable Standard Samples of Mass in the Nano-Gram Range
| dc.contributor.author | Mikhailov, I. F. | en |
| dc.contributor.author | Baturin, A. A. | en |
| dc.contributor.author | Bugaev, Ye. A. | en |
| dc.contributor.author | Mikhailov, A. I. | en |
| dc.contributor.author | Borisova, S. S. | en |
| dc.date.accessioned | 2015-06-22T09:24:34Z | |
| dc.date.available | 2015-06-22T09:24:34Z | |
| dc.date.issued | 2013 | |
| dc.description.abstract | Исследованы высокостабильные эталоны масс, полученные методом магнетронного осаждения сверхгладких слоев металлов на монокристаллические подложки. Тонкопленочные эталоны отвечают требованиям, предъявляемым ГОСТ 8.315-97 к государственным стандартным образцам: однородны, стабильны во времени и допускают аттестацию несколькими независимыми методами. Обеспечена точность измерений массы в диапазоне от 1 до 17 нг не хуже 1 нг, а в диапазоне от 17 до 3800 нг не хуже 8 нг. | ru |
| dc.identifier.citation | High-Stable Standard Samples of Mass in the Nano-Gram Range / I. F. Mikhailov [et al.] // Functional Materials. – 2013. – Vol. 20, № 2. – p. 266-271. | en |
| dc.identifier.uri | https://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/15460 | |
| dc.language.iso | en | |
| dc.publisher | Scientific and Technological Corporation "Institute for Single Crystals" | en |
| dc.title | High-Stable Standard Samples of Mass in the Nano-Gram Range | en |
| dc.title.alternative | Высокостабильные стандартные образцы массы в нанограммном диапазоне | ru |
| dc.type | Article | en |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
- Назва:
- 2013_Mikhailov_Higt_stable.pdf
- Розмір:
- 331.32 KB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 11.23 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: