Аналіз методів попередньої обробки малоконтрастних зображень, отриманих за допомогою електронно-оптичних засобів дефектоскопії
Дата
2018
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"
ФОП Панов А. М.
ФОП Панов А. М.
Анотація
Опис
Ключові слова
малоконтрасні дефекти, тріщини, відколи, вм'ятини
Бібліографічний опис
Панасенко Д. П. Аналіз методів попередньої обробки малоконтрастних зображень, отриманих за допомогою електронно-оптичних засобів дефектоскопії / Д. П. Панасенко, Ю. О. Смолін, В. Р. Крикун // Актуальні проблеми автоматики та приладобудування : матеріали 2-ї Міжнар. наук.-техн. конф., 06-07 грудня 2018 р. – Харків : Панов А. М., 2018. – С. 131-132.