Аналіз методів попередньої обробки малоконтрастних зображень, отриманих за допомогою електронно-оптичних засобів дефектоскопії

dc.contributor.authorПанасенко, Д. П.uk
dc.contributor.authorСмолін, Юрій Олександровичuk
dc.contributor.authorКрикун, В. Р.uk
dc.date.accessioned2019-02-22T11:35:47Z
dc.date.available2019-02-22T11:35:47Z
dc.date.issued2018
dc.identifier.citationПанасенко Д. П. Аналіз методів попередньої обробки малоконтрастних зображень, отриманих за допомогою електронно-оптичних засобів дефектоскопії / Д. П. Панасенко, Ю. О. Смолін, В. Р. Крикун // Актуальні проблеми автоматики та приладобудування : матеріали 2-ї Міжнар. наук.-техн. конф., 06-07 грудня 2018 р. – Харків : Панов А. М., 2018. – С. 131-132.uk
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/39867
dc.language.isouk
dc.publisherНаціональний технічний університет "Харківський політехнічний інститут"uk
dc.publisherФОП Панов А. М.uk
dc.subjectмалоконтрасні дефектиuk
dc.subjectтріщиниuk
dc.subjectвідколиuk
dc.subjectвм'ятиниuk
dc.titleАналіз методів попередньої обробки малоконтрастних зображень, отриманих за допомогою електронно-оптичних засобів дефектоскопіїuk
dc.typeThesisen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Panasenko_Analiz_metodiv_2018.pdf
Розмір:
432.04 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
1.71 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: