Вплив міді та нестехіометрії на структуру та електрофізичні властивості SnTe

dc.contributor.authorВодоріз, Ольга Станіславівнаuk
dc.contributor.authorДзюбенко, Наталя Іванівнаuk
dc.contributor.authorРогачова, Олена Іванівнаuk
dc.date.accessioned2021-04-16T14:11:16Z
dc.date.available2021-04-16T14:11:16Z
dc.date.issued2009
dc.description.abstractДосліджено вплив міді на структуру, механічні, електрофізичні та термоелектричні властивості телуриду олова з різним ступенем відхилення від стехіометрії. З'ясовано, що у разі збільшення концентрації дефектів нестехіометрії розчинність Cu у SnTe зростає. Залежності властивостей від концентрації Cu при фіксованій нестехіометрії мають немонотонний характер, засвідчуючи зміну механізму розчинення. Припускається, що за малого вмісту Cu основним механізмом входження міді у кристалічну ґратку є локалізація атомів Cu у міжвузловинах, а за подальшого збільшення концентрації Cu – заповнення катіонних вакансій та утворення дефектів заміщення.uk
dc.description.abstractThe influence of copper on the structure, mechanical, electrophysical and thermoelectrical properties of tin telluride with a different degree of deviation from stoichiometry was carried out. It was established that the copper solubility in SnTe grows at the increase of defects nonstoichiometry concentration. The properties dependences on Cu concentration at the fixed nonstoichiometry have nonmonotonous character, indicating the change of the solubility mechanism. It is assumed that localization of the Cu atoms in interstitials is basic mechanism of the copper implantation in lattice at small content of Cu, but at the subsequent increase of the Cu concentration – cationic vacancies infill and substitution defects formation.en
dc.identifier.citationВодоріз О. Вплив міді та нестехіометрії на структуру та електрофізичні властивості SnTe / О. Водоріз, Н. Дзюбенко, О. Рогачова // Вісник Львівського університету. Серія фізична = Visnyk of the Lviv University. Series Physics : зб. наук. пр. – Львів : ЛНУ, 2009. – Вип. 44. – С. 31-38.uk
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-2951-4887
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0001-7584-656X
dc.identifier.urihttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/52209
dc.language.isouk
dc.publisherЛьвівський національний університет ім. Івана Франкаuk
dc.subjectтелурид оловаuk
dc.subjectвласні дефектиuk
dc.subjectлегуванняuk
dc.subjectрозчинністьuk
dc.subjectмікротвердістьuk
dc.subjectкоефіцієнт Зеєбекаuk
dc.subjectелектропровідністьuk
dc.subjectконцентрація носіїв зарядуuk
dc.subjecttin tellurideen
dc.subjectintrinsic defectsen
dc.subjectdopingen
dc.subjectcopperen
dc.subjectsolubilityen
dc.subjectmicrohardnessen
dc.subjectSeebeсk coefficienten
dc.subjectelectrical conductivityen
dc.subjectcarrier charge concentrationen
dc.titleВплив міді та нестехіометрії на структуру та електрофізичні властивості SnTeuk
dc.title.alternativeInfluence of copper and nonstoichiometry on SnTe structure and electrophysical propertiesen
dc.typeArticleen

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
visnyk_LU_2009_44_Vodoriz_Vplyv_midi.pdf
Розмір:
346.8 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз недоступний
Назва:
license.txt
Розмір:
11.25 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: