Кафедра "Фізика"

Постійне посилання колекціїhttps://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/7578

Офіційний сайт кафедри http://web.kpi.kharkov.ua/tef

Кафедра "Фізика" створена у 2016 році шляхом об'єднання кафедри "Загальна та експериментальна фізика" і кафедри "Теоретична та експериментальна фізика", заснованої в 1972 році. .

У 1885 р. для викладання в інституті курсу фізики на посаду ад’юнкт-професора був запрошений магістр фізики приват-доцент Харківського університету Олександр Костянтинович Погорілко. У різні роки на кафедрі працювали видатні вчені-фізики: Пільчиков Н. Д., Латишев Г. Д., Обреїмов І. В., Пінес Б. Я., Ландау Л. Д., Корсунський М. І., Веркин Б. І., Дмитренко І. М., Базакуца В. А., Кулик І. О., Янсон І. К., Басс Ф. Г. Гуревич Ю. Г., Косевич В. М., Кукушкін Л. С. та ін.

Кафедра входить до складу Навчально-наукового інституту комп'ютерного моделювання, прикладної фізики та математики Національного технічного університету "Харківський політехнічний інститут".

У складі науково-педагогічного колективу кафедри працюють: 2 доктора та 16 кандидатів фізико-математичних наук, 2 кандидата технічних наук, 1 кандидат педагогічних наук; 2 співробітника мають звання професора, 12 – доцента.

Переглянути

Фільтри

2010 - 202011

Налаштування

Автор: search.filters.author.Багмут, Иван АлександровичМістить файли: Так

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 10 з 11
  • Ескіз
    Документ
    Электронно-лучевая кристаллизация аморфных пленок
    (Національний технічний університет "Харківський політехнічний інститут", 2019) Багмут, Александр Григорьевич; Багмут, Иван Александрович; Резник, Николай Александрович
  • Ескіз
    Документ
    Введение в просвечивающую электронную микроскопию "in situ"
    (ООО "В деле", 2020) Багмут, Александр Григорьевич; Багмут, Иван Александрович
    В пособии изложены теоретические и практические методы просвечивающей электронной микроскопии. Материал иллюстрирован практическими примерами, во всех разделах приведена необходимая литература. Описаны результаты работ авторов в области микроскопии тонких пленок и фазовых превращений. Для аспирантов и студентов физико-технических специальностей, научных работников.
  • Ескіз
    Документ
    Рост кристаллов при электронно-лучевой кристаллизации аморфных пленок HfO₂
    (НТУ "ХПІ", 2018) Багмут, Александр Григорьевич; Багмут, Иван Александрович; Николайчук, Григорий Павлович; Резник, Н. А.
  • Ескіз
    Документ
    Нанодисперсные пленки, осажденные импульсным лазерным распылением комбинированных мишеней Ni-Au
    (Харьковский национальный университет им. В. Н. Каразина, 2010) Багмут, Александр Григорьевич; Багмут, Иван Александрович; Жучков, Василий Анатольевич; Николайчук, Григорий Павлович; Красников, А. Н.
    Представлены результаты электронно-микроскопических и электронографических исследований пленок Ni, Au и сплава Ni-Au, полученных импульсным лазерным распылением одноэлементных и двухэлементных металлических мишеней. В результате распыления одноэлементной мишени Ni и комбинированной мишени 0,75Ni-0,25Au на подложках фор- мируются пленки с метастабильной ГПУ структурой. Распыление комбинированной мишени 0,5Ni-0,5Au, также как и мишени из чистого золота, приводит к формированию пленок со стабильной ГЦК структурой.
  • Ескіз
    Документ
    Формирование микрокристаллов кубической фазы ZrO₂ при кристаллизации аморфных пленок, осажденных методом лазерной абляции Zr в атмосфере кислорода
    (Наука, 2016) Багмут, Александр Григорьевич; Багмут, Иван Александрович; Резник, Н. А.
    Изучены структура и фазовые превращения при отжиге пленок диоксида циркония, полученных импульсным лазерным распылением мишени Zr в атмосфере кислорода. Исследования проведены методами просвечивающей электронной микроскопии и электронографии. Установлены условия формирования как аморфной, так и кубической фазы ZrO₂. Воздействие на аморфную пленку электронного луча в вакууме сопровождается образованием микрокристаллов диоксида циркония с ГЦК-решеткой. Средний размер зерен в закристаллизованной пленке составляет 0.5 μm. Фазовое превращение сопровождается уплотнением материала пленки. Относительное изменение плотности при кристаллизации ZrO₂ составляет 10.27 ± 2.14%.
  • Ескіз
    Документ
    Электронно-микроскопическое исследование тонкопленочных лазерных конденсатов HfO₂
    (Наука, 2012) Багмут, Александр Григорьевич; Багмут, Иван Александрович; Жучков, Василий Анатольевич; Шевченко, М. О.
    Методами просвечивающей электронной микроскопии и электронографии исследованы пленки диоксида гафния, полученные импульсным лазерным распылением Hf в атмосфере кислорода. Выявлены условия образования аморфной фазы, а также тетрагональной и моноклинной модификации HfO₂. На ориентирующих подложках кристаллическая фаза формируется при более низких температурах по сравнению с нейтральными подложками. Эффект эпитаксии проявляется для тетрагональной модификации HfO₂. При отжиге на воздухе аморфная пленка кристаллизуется с образованием моноклинной модификации HfO₂.
  • Ескіз
    Документ
    Фазовые превращения в пленках, осажденных лазерной абляцией Hf в атмосфере кислорода
    (Наука, 2012) Багмут, Александр Григорьевич; Багмут, Иван Александрович; Жучков, Василий Анатольевич; Шевченко, М. О.
    Изучены структура и фазовые превращения при отжиге пленок диоксида гафния, полученных импульсным лазерным распылением мишени Hf в атмосфере кислорода. Исследования проведены с помощью методов просвечивающей электронной микроскопии и электронографии. Установлено формирование аморфной, тетрагональной, ромбической и моноклинной фаз HfO₂. Для тетрагональной модификации HfO₂ проявляется эффект эпитаксии на подложке (001) KCl. При отжиге аморфной пленки как в вакууме, так и в воздушной атмосфере происходит ее кристаллизация с образованием моноклинной модификации HfO₂. Воздействие на аморфную пленку электронного луча в вакууме сопровождается образованием ромбической и моноклинной модификаций HfO₂. При переходе от ромбической к моноклинной модификации HfO₂ имеет место фазовый размерный эффект. На заключительном этапе кристаллизации доминирующей составляющей является моноклинная модификация, представленная дендритными кристаллами HfO₂.
  • Ескіз
    Документ
    Электронная микроскопия
    (НТУ "ХПИ", 2016) Багмут, Александр Григорьевич; Багмут, Иван Александрович; Косевич, Вадим Маркович; Николайчук, Григорий Павлович; Резник, Николай Александрович
    В сборнике приведены 8 лабораторных работ, 31 задача с подробными решениями и 15 задач для самостоятельного решения, касающихся основных разделов просвечивающей электронной микроскопии. Приложение содержит описание и листинги программ, которые использованы в лабораторных работах 6, 7 и 8. Предназначено для студентов, аспирантов и преподавателей физико-технических и материаловедческих специальностей.
  • Ескіз
    Документ
  • Ескіз
    Документ
    Методические указания к выполнению лабораторной работы "Определение статистических характеристик частиц по микрофотографиям" по курсу "Электронная микроскопия и электронография"
    (НТУ "ХПИ", 2011) Багмут, Александр Григорьевич; Багмут, Иван Александрович; Николайчук, Григорий Павлович; Жучков, Василий Анатольевич