Потери энергии потока заряженных частиц на возбуждение электромагнитных колебаний в полупроводниковых структурах

Ескіз

Дата

2006

ORCID

DOI

Науковий ступінь

Рівень дисертації

Шифр та назва спеціальності

Рада захисту

Установа захисту

Науковий керівник

Члени комітету

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

НТУ "ХПИ"

Анотація

Определена энергия излучения электромагнитных колебаний в системе полупроводниковая плазма – поток заряженных частиц при возбуждении колебаний в субмиллиметровом диапазоне. Предложена аналитическая модель механизма взаимодействия электромагнитных колебаний и токов, возникающих вследствие воздействия электромагнитного излучения в проводящих элементах электрорадиоизделий, содержащих полупроводниковые сверхрешетки.
Electromagnetic oscillation energy in a system of semiconducting plasma - charged particle flux is determined under the oscillation excitation in a submillimeter range. An analytical model of interaction mechanism for the electromagnetic oscillation and currents arising due to action of electromagnetic radiation in current - conducting elements of electric radio apparatus containing semiconductive super lattices is presented.

Опис

Ключові слова

энергия излучения, полупроводниковая плазма, электромагнитные токи, электромагнитные излучения, радиоэлектронная аппаратура, полупроводниковая электроника, electromagnetic oscillation energy, semiconducting plasma - charged particle flux system, interaction mechanism, analytical model, electric radio apparatus

Бібліографічний опис

Кравченко В. И. Потери энергии потока заряженных частиц на возбуждение электромагнитных колебаний в полупроводниковых структурах / В. И. Кравченко, И. В. Яковенко, Е. В. Глухов // Электротехника и Электромеханика = Electrical engineering & Electromechanics. – 2006. – № 5. – С. 60-63.

Підтвердження

Рецензія

Додано до

Згадується в