Публікація: Use of pseudo exhaustive test pattern generator on the basis of shift registers with nonlinear feedback
Вантажиться...
Дата
Автори
ORCID
DOI
Назва видання
ISSN
Назва тому
Видання
ООО "Цифра Принт"
Анотація
Опис
Ключові слова
nonlinear feedback, pseudo exhaustive test, linear codes, information technology
Бібліографічний опис
Mіrosсhnyk M. A. Use of pseudo exhaustive test pattern generator on the basis of shift registers with nonlinear feedback / M. A. Mіrosсhnyk, V. A. Krylova // Проблеми інформатики та моделювання : тезиси 16-ї міжнар. наук.-техн. конф., 12-16 вересня 2016 р. / наук. ред. В. Д. Дмитрієнко. – Харків ; Одеса : Цифра Принт, 2016. – С. 48.