"In-Situ" Electron Microscopy Video Registration of Thin Amorphous Films Crystallization
Вантажиться...
Дата
2020
Автори
DOI
doi.org/10.15407/mfint.42.08.1065
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Видавець
Інститут металофізики ім. Г. В. Курдюмова НАН України
Академперіодика
Академперіодика
Анотація
The article summarizes the results of electron microscopic studies of "in situ" crystallization of thin amorphous films. Data analysis is carried out based on the classification scheme of electron-beam crystallization of films, including structural-morphological and numerical characteristics. Layer polymorphous crystallization (as the analogue of Frank–van der Merwe growth mode), island polymorphous crystallization (as an analogue of the Volmer–Weber growth mode) and dendrite polymorphous crystallization (as an analogue of the Stransky–Krastanov growth mode) are identified. For each type of crystallization a dimensionless parameter of the relative length δ₀ is determined. It is equal to the ratio of the characteristic length to the value, related to the size of the unit cell of the crystal. Based on the electron microscopic video registration of the process, kinetic crystallization curves are built for each type of the transformation.
Опис
Ключові слова
crystallization kinetics, crystal growth modes, TEM, amorphous films, relative length, video registration
Бібліографічний опис
Bagmut A. G. "In-Situ" Electron Microscopy Video Registration of Thin Amorphous Films Crystallization / A. G. Bagmut // Metallophysics and advanced technologies = Металофізика і новітні технології. – 2020. – Vol. 42, No. 8. – P. 1065-1078.