Потери энергии потока заряженных частиц на возбуждение электромагнитных колебаний в полупроводниковых структурах

Вантажиться...
Ескіз

Дата

ORCID

DOI

Науковий ступінь

Рівень дисертації

Шифр та назва спеціальності

Рада захисту

Установа захисту

Науковий керівник/консультант

Члени комітету

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

Видавець

НТУ "ХПИ"

Анотація

Определена энергия излучения электромагнитных колебаний в системе полупроводниковая плазма – поток заряженных частиц при возбуждении колебаний в субмиллиметровом диапазоне. Предложена аналитическая модель механизма взаимодействия электромагнитных колебаний и токов, возникающих вследствие воздействия электромагнитного излучения в проводящих элементах электрорадиоизделий, содержащих полупроводниковые сверхрешетки.
Electromagnetic oscillation energy in a system of semiconducting plasma - charged particle flux is determined under the oscillation excitation in a submillimeter range. An analytical model of interaction mechanism for the electromagnetic oscillation and currents arising due to action of electromagnetic radiation in current - conducting elements of electric radio apparatus containing semiconductive super lattices is presented.

Опис

Бібліографічний опис

Кравченко В. И. Потери энергии потока заряженных частиц на возбуждение электромагнитных колебаний в полупроводниковых структурах / В. И. Кравченко, И. В. Яковенко, Е. В. Глухов // Электротехника и Электромеханика = Electrical engineering & Electromechanics. – 2006. – № 5. – С. 60-63.

Підтвердження

Рецензія

Додано до

Згадується в